| Date |
Révision |
Récapitulatif |
| 03/10 |
9 |
- Verrouillage de cache expérimental ajouté, avec prise en charge des virgules flottantes. Les commandes chargées sont alignées sur une frontière de ligne de cache 32 bits.
- Correction d’un problème avec la configuration CNA FIFO (les sorties CNA pouvaient s’immobiliser).
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| 11/09 |
08 |
- Les données FPGA ne sont chargées que si elles n’ont pas déjà été chargées.
- Le code USB a été réécrit de façon à permettre l’utilisation d’une interface à 4 points limite avec un code d’horloge de surveillance pour états inactifs.
- Prise en charge du silo CNA et ajout d’un code de test.
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| 10/09 |
07 |
- Support ajouté pour le programme DAC Silo (pas encore pris en charge par le logiciel).
- Changements apportés pour résoudre des problèmes de carte de type Issue C.
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| 10/08 |
06 |
- Comportement du fanion clock 4 corrigé.
- Impulsions 100 ns pour E/S numérique correctement générées.
- Code émulant les EEPROM en mémoire flash amélioré de manière à éviter les problèmes sur les écritures EEPROM.
- Fonction de vidage du cache ajustée de manière à éviter de possibles problèmes MEMDAC si des demandes d’interruption sont en cours.
- Fonctions d’accès de bus I2C ajoutées au tableau de symboles pour l’accès aux commandes.
- Fonctions interface 1 fil écrites et ajoutées au tableau de symboles.
- Code d’autotest étendu pour les conversions CAN cadencées.
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| 06/08 |
05 |
- Synchronisation horloge améliorée afin d’éviter les fausses erreurs de surcharge.
- Registre OVRSRC ajouté.
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| 04/08 |
04 |
- Fournit de meilleures informations en cas de surcharge d’interruption (interrupt overrun)
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| 04/08 |
03 |
- Intègre des mécanismes de transfert de données de ventilation/regroupement (scatter/gather) vers le PC hôte.
- Plus résistant aux impulsions d’événement externes pendant les autotests.
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| 11/07 |
02 |
- Changements apportés pour les écritures CNA 8 bits.
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| 10/07 |
01 |
- SetADCList étendu de façon à autoriser les sous-paquets.
- Limites de test analogique automatique légèrement moins contraignantes. Fermeture des logiciels (optionnelle) avant les tests de réinitialisation. Corrections apportées au fonctionnement des LED d’erreur. Ajout du code n pour l’effacement du banc de mémoire flash.
- Amélioration de la synchronisation pour l’interface HSS de façon à permettre le travail sur Test-Rack. Correction du problème lié aux systèmes comprenant plus d’un boîtier supérieur.
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